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聯(lián)訊eDH3101高溫高濕老化系統(tǒng)是一體化高溫高濕雙85老化系統(tǒng)，一個針對第三代半導體芯片可靠性測試的完整的雙溫高濕雙85 Turn-key解決方案。 聯(lián)訊儀器eDH3101主要適用于GaAs和GaN射頻器件和功率器件的高溫高濕試驗。該系統(tǒng)已經(jīng)在激光器芯片行業(yè)和第三代半導體兩大行業(yè)通過大量認證，是一個可靠穩(wěn)定的系統(tǒng)。
聯(lián)訊CT8201激光器芯片測試系統(tǒng)聯(lián)訊儀器 CT8201 激光器芯片測試系統(tǒng)是針對激光二極管LIV、光譜及近場/遠場參數(shù)測試需求開發(fā)的。
聯(lián)訊TO6201 TO高溫測試系統(tǒng)TO6201-LIV是聯(lián)訊儀器提供的測試TO LIV，光譜測試機臺，支持標準8x8老化夾具，主要功能和參數(shù)指標包括： ? 支持TO的LIV掃描相關(guān)參數(shù)計算. ? 支持中心波長和SMSR測試，是否跳模判斷（多電流點光譜測試法）
聯(lián)訊TO6200低溫測試系統(tǒng)聯(lián)訊儀器提供的測試設(shè)備需要支持如下TO 產(chǎn)品的LIV 與光譜測試，詳細功能包括： - 支持TO 的LIV 掃描相關(guān)參數(shù)計算和算法選擇 - 支持中心波長和SMSR 測試，是否跳模判斷（多電流點光譜測試法）. - 支持LIV 和光譜并行測試
聯(lián)訊BI4201-TO老化系統(tǒng)是聯(lián)訊儀器提供的測試TO 標準老化系統(tǒng)，主要功能和特點包括：。 - 雙溫區(qū)，每個溫區(qū)可以獨立老化不同產(chǎn)品 - 大容量，每個溫區(qū)支持1536 顆TO 的老化，共支持3072 顆TO 的老化 - 軟件切換引腳定義，針對目前行業(yè)內(nèi)不同的引腳封裝通過軟件切換實現(xiàn) - 兼容小電流VCSEL TO 的老化和大電流FP/DFB TO 的老化
ENJ2005-C半導體功率器件圖示系統(tǒng)是一款很具有代表性的新型半導體功率器件圖示系統(tǒng)，系統(tǒng)IV曲線自動生成，也可根據(jù)實際需求設(shè)置功能測試，直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)生成的曲線都使用ATE系統(tǒng)逐點建立，保證了數(shù)據(jù)的準確可靠。
EN-1230A分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是針對于半導體器件進行非破壞性瞬態(tài)測試。用于二極管、雙極性三極管、MOEFET、IGBT的動態(tài)參數(shù)測試。系 統(tǒng)的測試原理符合相應(yīng)的國家標準、軍標、系統(tǒng)為獨立式單元，封閉式結(jié)構(gòu)，具有升級擴展?jié)撃堋?/p>
容測EA-I16汽車電源故障模擬器EA-I16 線束微中斷模擬器(汽車電源故障模擬器)電源線信號線二合一設(shè)計，應(yīng)用于汽車線束微中斷測試，輸出波形，最小支持1us中斷試驗。
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