致茂Chroma 11090-030射頻LCR表測(cè)試儀產(chǎn)品特色

●測(cè)試參數(shù):Z,0z,Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs,Rp, D,Q

●測(cè)試頻率:100kHz~300MHz

●量測(cè)范圍:100mΩ~5kΩ

●量測(cè)速度:0.5/0.9/2.1/3.7(ms)

●基本準(zhǔn)確度:±0.8% % (typical ±0.45%)

●測(cè)試輸出能量:-40~1(dBm)

●量測(cè)模式:單點(diǎn)(Point)/多點(diǎn)(List)

●測(cè)試訊號(hào)(Vm,lm)監(jiān)測(cè)功能

●比較與分類(13bins)選別功能

●接觸檢查(Rdc 0.1Ω~100Ω @ 1mA max)

●開(kāi)短路校正與載入補(bǔ)償功能

●標(biāo)準(zhǔn)介面: Handler、RS-232C、GPIB、LAN、USB(A& B type)

致茂Chroma 11090-030射頻LCR表測(cè)試儀特點(diǎn)

●寬的測(cè)試頻率:100kHz~300MHz

●快速的測(cè)試速度:0.5ms/point

●多樣性的功能

●校正/補(bǔ)償狀態(tài)指引

●提供磁性元件以Rdc為接觸檢查

●多參數(shù)比較與分類功能

●0~401點(diǎn)多點(diǎn)測(cè)試與曲線繪圖功能

●清晰與引導(dǎo)式操作

●操作快速的SMD測(cè)試治具

應(yīng)用領(lǐng)域

SMD電感(壓模電感/積層電感/磁珠等)

EMI共模線圈

其他被動(dòng)元件

高達(dá)300MHz的測(cè)試頻率

高頻小型化的功率電感多為金屬壓模式電感，但①原始磁材不良(金屬顆粒大/鐵氧層不良)或②層間耐壓測(cè)試后局部鐵氧層破壞或③線圈漆包破損與磁材直接接觸都會(huì)造成Q值降低，在后續(xù)使用容易過(guò)熱。要檢出此三類異常，以一般感量之標(biāo)稱頻率測(cè)試狀態(tài)，因電感阻抗?fàn)顟B(tài)低，Q值多被探針接觸電阻所左右。

故提高測(cè)試頻率進(jìn)而提高感抗以降低探針接觸電阻之影響，可提升磁材異常與線材絕緣異常的檢出率，此方法廣為業(yè)界所采用。

導(dǎo)磁金屬粉末表面大都處理氧化層來(lái)降低高頻交流帶來(lái)的渦流損失來(lái)提高可使用頻域，降低損失及溫升，但一般用戶是無(wú)法從外觀知道磁材的顆粒大小與經(jīng)過(guò)壓模燒結(jié)后氧化層是否完好，但透過(guò)高頻測(cè)試則容易判別。

電感在高頻的等效電路與Ls與Q的關(guān)系式如(圖一)，一般業(yè)界雖以接近電感自振頻率(SRF)之Ls在檢測(cè)前述品質(zhì)異常，實(shí)質(zhì)上是在檢測(cè)其Q值是否低下，但可避開(kāi)接觸電阻影響。一般正常品在SRF附近Ls因寄生容量關(guān)系較高，異常品則受損失過(guò)大所累Q值低下，表象Ls也偏低。 Chroma11090-030 100kHz~300MHz測(cè)試頻域滿足標(biāo)稱Ls/Q與高頻Ls@HF的雙重測(cè)試需求，可滿足此類電感在生產(chǎn)的使用需求，另外在其RD與品?；螂姼惺褂谜叨己苓m用。

▲ (圖一) 電感在高頻的等效電路與Ls與Q的關(guān)系式

▲ (圖二) 取樣品實(shí)測(cè)兩個(gè)曲線說(shuō)明

阻抗量測(cè)與準(zhǔn)確度

Chroma 11090-030采用RF-IV測(cè)量方法量測(cè)待測(cè)物(DUT)的電壓和電流，與一般網(wǎng)絡(luò)分析儀相比較，此儀器能夠在較寬的阻抗范圍(100mΩ~5kΩ)內(nèi)進(jìn)行更準(zhǔn)確的測(cè)量，其優(yōu)勢(shì)在于可測(cè)量的電感值非常小，約為數(shù)個(gè)nH。此外，11090-030具備100kHz~300MHz的寬范圍測(cè)試頻率，若被測(cè)物的測(cè)試有數(shù)百kHz以及高頻數(shù)MHz雙頻以上需求時(shí)，生產(chǎn)測(cè)試儀器則不用分兩臺(tái)或兩站進(jìn)行測(cè)試，故能降低儀器成本。

▲ 量測(cè)時(shí)間Slow, 測(cè)試訊號(hào) 1dBm, 平均次數(shù)≧8, at 23℃

註1. Avg = 8, OSC = 1 dBm, calibration is performed (at 23 ± 5°C)

註2. Freq = 100 MHz, Ave = 8, OSC = 1 dBm, calibration is performed (at 23 ± 5°C)

註3. Freq = 1 MHz, Ave = 8, OSC = 1 dBm, calibration is performed (at 23 ± 5°C)

特色功能

校正/補(bǔ)償指引功能

射頻LCR測(cè)量非常依賴正確的校正(OPEN/SHORT/LOAD)，過(guò)程錯(cuò)誤或漏掉某一項(xiàng)則很容易造成錯(cuò)誤的結(jié)果。 11090-030具有向?qū)Чδ艿男Ｕ?補(bǔ)償方法能消除繁瑣的校正/補(bǔ)償程序之錯(cuò)誤，讓用戶具有引導(dǎo)式校正程序，降低漏掉項(xiàng)目的風(fēng)險(xiǎn)、并且有圖示指引降低取錯(cuò)標(biāo)準(zhǔn)件的錯(cuò)誤，對(duì)于已完成校正程序者，測(cè)試畫面也有對(duì)應(yīng)的顯示。

▲ 校正/補(bǔ)償程序設(shè)定

▲ 校正程序設(shè)定

▲ 補(bǔ)償程序設(shè)定

提供磁性元件以Rdc為接觸檢查

射頻LCR表對(duì)應(yīng)之SMD元件一般尺寸都很小，在對(duì)應(yīng)測(cè)試治具或自動(dòng)化測(cè)試之接觸好壞皆很難直觀確認(rèn)。 11090-030提供磁性元件以Rdc為接觸檢查功能，由于Rdc為一無(wú)需校正之參數(shù)，而且在磁性元件(電感、EMI Filter、bead)之接觸確認(rèn)最為直接，此功能協(xié)助生產(chǎn)線中的測(cè)試達(dá)到更精準(zhǔn)的分揀錯(cuò)誤，提高不良品分類的準(zhǔn)確性和效率。

多參數(shù)比較與分類功能

射頻測(cè)試在不同頻域的良品或不良品判定可能因其參數(shù)不同，使用絕對(duì)值或百分比不同、注重之主副參數(shù)不同、高低判定方式也不同。 Chroma 11090-030提供非常具彈性的表列式，且最多達(dá)13 bins，每個(gè)bin有四個(gè)限制值。頻率和測(cè)量參數(shù)等條件可以在每列中獨(dú)立設(shè)置，使11090-030能夠滿足多樣性的分選需求，包括不同測(cè)量頻率下的不同參數(shù)。

~401點(diǎn)之多點(diǎn)測(cè)試與曲線繪圖功能

RF元件常需跨多頻域分析其參數(shù)頻響變化，11090-030多點(diǎn)量測(cè)功能可設(shè)定最多401點(diǎn)，提供用戶更詳細(xì)且精準(zhǔn)的量測(cè)數(shù)值，同時(shí)可以選擇多點(diǎn)列表與特性曲線繪制提供生產(chǎn)測(cè)試或分析人員快速了解元件頻率特性。

▲ 多點(diǎn)列表

▲ 多參數(shù)曲線同時(shí)繪圖

▲ 單一參數(shù)曲線繪圖

清晰與引導(dǎo)式操作

采用觸控、全彩、高分辨率液晶顯示，同時(shí)清晰顯示多參數(shù)測(cè)試結(jié)果與設(shè)定狀態(tài)及比較或分選結(jié)果或與參考值的差異，并且以簡(jiǎn)潔的圖標(biāo)指示儀器狀況與指引快速操作，替用戶提供更直觀操作及更完整的資訊。

操作快速的SMD測(cè)試治具

SMD尺寸細(xì)微且多元，需要極度精密的特殊材料提供限位，但若更換尺寸皆需重新組裝限位墊片，不僅耗時(shí)且容易損耗昂貴的組件與限位墊片。符合多種小型的SMD測(cè)試治具，采用改進(jìn)的下壓方式，可旋轉(zhuǎn)90度并只需要三個(gè)步驟來(lái)更換被測(cè)物(實(shí)際測(cè)試約40秒)，能替用戶減少更換被測(cè)物時(shí)間、加快測(cè)試速度、免除反覆拆裝限位墊片，進(jìn)而減少損耗與維護(hù)費(fèi)用。

標(biāo)準(zhǔn)的傳輸接口

11090-030擁有完整的接口配置，其中包含了設(shè)定量測(cè)條件、觸發(fā)量測(cè)動(dòng)作、判定量測(cè)結(jié)果與搜集量測(cè)數(shù)據(jù)的通信接口，更包括LAN、GPIB、USB(B-Type)、RS- 232接口與儲(chǔ)存接口USB(A-Type)，以及可藉由Handler接口觸發(fā)量測(cè)并將此判斷結(jié)果傳送至外部。

面板說(shuō)明

▲ 注：USB接頭連接不可用于『行動(dòng)電源充電』、『手機(jī)充電』或是『電流需求超過(guò)0.5A』的連接設(shè)備。