CINDBEST CJ-4高溫測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)

簡(jiǎn)要描述：CINDBEST CJ-4高溫測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)大可用于8英寸以內(nèi)樣品測(cè)試；

可滿足500度高溫測(cè)試；

溫度穩(wěn)定性高；兼容IV/CV/RF測(cè)試

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詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣

CINDBEST CJ-4高溫測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)

大可用于8英寸以內(nèi)樣品測(cè)試；

可滿足500度高溫測(cè)試；

溫度穩(wěn)定性高；兼容IV/CV/RF測(cè)試

CINDBEST CJ-4高溫測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)

特點(diǎn)/應(yīng)用

大可用于8英寸以內(nèi)樣品測(cè)試

同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，線性移動(dòng)

可滿足500度高溫測(cè)試

溫度穩(wěn)定性高

兼容IV/CV/RF測(cè)試

結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單合理，操作方便

探針臺(tái)可根據(jù)客戶要求定制

臺(tái)體規(guī)格：

型號(hào)	CJ-4/CJ-6/CJ-8
樣品臺(tái)尺寸	4英寸/6英寸/8英寸
水平旋轉(zhuǎn)	可360度旋轉(zhuǎn)，可微調(diào)15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置
X-Y移動(dòng)行程	4英寸4英寸/6英寸6英寸/8英寸*8英寸
X-Y移動(dòng)精度	10微米/1微米
樣品固定	真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環(huán)
針座平臺(tái)	U型針座平臺(tái)，多可放置8個(gè)探針座
背電極測(cè)試	樣品臺(tái)電學(xué)獨(dú)立懸空，4mm插孔可接背電極
溫度范圍	室溫到300度/室溫到400度/室溫到600度
溫控精度	1度/0.1度/0.01度
穩(wěn)定性	±1度/±0.1度
外形尺寸	400mm長(zhǎng)400mm寬600mm高/580mm長(zhǎng)480mm寬600mm高/840mm長(zhǎng)600mm寬700mm高
重量	約30千克/60千克/100千克

光學(xué)系統(tǒng)：

顯微鏡類型	單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡
放大倍率	16X-200X/20X-4000X
移動(dòng)行程	X-Y軸行程2英寸*2英寸/水平360度旋轉(zhuǎn)，Z軸行程50.8mm
光源	外置LED環(huán)形光源/同軸光源
CCD	200萬(wàn)像素/500萬(wàn)像素/1200萬(wàn)像素

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