蔡司MultiSEM 706超高速掃描電子顯微鏡，充分運用91條并行電子束的采集速度，用納米分辨率對厘米級樣品進行成像。這款獨特的掃描電子顯微鏡設計用于全天候連續(xù)、可靠的運行。只需簡單設置高通量數(shù)據(jù)采集工作流，MultiSEM便能自動完成高襯度圖像采集。

• 成像速度極快

• 自動大區(qū)域圖像采集

• 宏觀信息下的納米級細節(jié)

• 低噪點高襯度圖像

產品優(yōu)勢

探索蔡司MultiSEM 706超高速掃描電子顯微鏡的新亮點

• 采集速度可提升4倍

  配備超快的80 MHz偏轉系統(tǒng)，像素駐留時間最短可達12.5納秒。

• 提升檢測均勻性

  借助全新的單晶閃爍器，讓您享有最均勻的拼圖效果。

• 更精準的像素定位

  借助偏轉系統(tǒng)，體驗高達10倍的像素定位精度提升。

• 更好的系統(tǒng)穩(wěn)定性

  水冷掃描電子單元提升了系統(tǒng)在長時間成像中的穩(wěn)定性。

• 更廣泛的應用范圍

  在極低著陸能量下的優(yōu)異成像性能為新應用場景鋪平了道路。

極速突破，納米之精

體驗納米級分辨率下的超高采集速度。MultiSEM系統(tǒng)采用91條并行電子束，顯著提升了整體成像速度。例如，使用4 nm像素大小采集1 mm2的區(qū)域只需不到兩分鐘。憑借每小時超過3 TB的出色采集速率，您可以在納米級分辨率下對大體積樣品（>1 mm3）進行成像。

納米級分辨率的大型樣品成像

蔡司MultiSEM讓超大型樣品成像變?yōu)楝F(xiàn)實。該顯微鏡配備一個可容納10 cm × 10 cm樣品區(qū)域的樣品夾。您無需在大樣品尺寸和納米級分辨率之間做出取舍。您可以對整個樣品進行成像，獲取解答科研問題所需的每個細節(jié)。利用專為大面積成像開發(fā)的自動圖像采集方案，您將獲得細節(jié)完備的整張圖像，且不會失去關鍵的宏觀信息。

利用ZEN成像軟件輕松操作電子顯微鏡

體驗全新的電子顯微鏡操作：我們將直觀易用的蔡司光學顯微鏡標準化軟件ZEN引入了電子顯微鏡領域，讓MultiSEM更易于操控。您能夠快速設置復雜的自動采集流程，使其滿足您的特定樣品需求。用于MultiSEM的ZEN專為滿足連續(xù)并行圖像采集所需的高速度而設計，并且可以配備用于定制應用程序開發(fā)的API接口。