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ST2500E高密度數模混合信號測試機廣泛應用于SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半導體晶圓、器件測試和模塊系統級測試。

ST2500A高性能數模混合信號測試系統是基于ST2500系列產品擴展的一套不僅能夠實現數字信號測試，同時還能滿足了模擬測試需求的測試系統。該系統具有豐富的板卡資源(DFB32、FOVI50、OTMU、CBIT、SMU20)，可以滿足各類數模混合高并行測試需求。

ST2516高性能數字混合信號測試系統，可以實現32~320個數字通道靈活組合配置，實現最高機器利用率。對于特殊的測試需求，該系統還支持擴展更多的測試板卡及模塊，如SMU、HRAWG、HRDGT、BlueTooth、WiFi等測試模塊。

ST2564高性能數字混合信號測試系統可以廣泛應用于S0C/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、ClS、指紋芯片、PMIC、Bluetooth、WiFi、loT等半導體晶圓、器件測試和模塊系統級測試。

eATE數模混合信號測試系統是加速科技新推出的一款集成數字集成電路測試功能的緊湊型可移動測試系統。系統支持50Mbps數據速率;業務功能板卡采用all-in-one設計模式，功能集成度高，體積小巧、簡潔輕便，性價比高，是小型芯片驗證的選擇。

EN-3020B分立器件參數測試儀采用上位計算機控制，集點測試和曲線掃描為一體，可實現點參數測試和圖示儀功能。軟件操作界面友好智能，在 PC 窗口提示下輸入被測器件的測試參數即可完成填表編程，操作人員不需具備專業計算機編程語言知識，使用簡捷方便。操作軟件采用填入式編程方法，專為國內用戶開發。

ENJ2005-A半導體分立器件測試系統采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。被測器件引腳接觸自動判斷功能。系統采用帶有開爾文感應結構的測試工裝，自動補償由于系統內部及測試電 纜長度引起的壓降，保證測試結果準確可靠。

ENJ2005-B半導體分立器件測試系統，支持電流階梯升級至1250A。采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。被測器件引腳接觸自動判斷功能。系統采用帶有開爾文感應結構的測試工裝，自動補償由于系統內部及測試電 纜長度引起的壓降，保證測試結果準確可靠。