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日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡 EM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統，還增加了最新的控制系統，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能，操作方便，簡明易懂，在材料、醫學、生物學等多個研究領域提供優異的解決方案。
日本電子JEM-F200透射電子顯微鏡 以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
JEM-Z200FSC場發射冷凍電子顯微鏡場發射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標配冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器（Ω能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統。新設計的Ω能量過濾器與無孔位相板的組合，進一步提高了生物樣品的襯度。
JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡NEOARM” 標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實現原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統，可以自動進行快速準確的像差校正。
JEM-Z300FSC場發射冷凍電子顯微鏡 場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配備了冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器(Ω能量過濾器)、側插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換系統，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統內最多可以存儲12個樣品，可以任意取出和交換一個或數個樣品，能靈活地進行測試排序。
JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡 JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術整合在一起，實現了高度穩定性和高分辨率，以精煉的外觀設計呈現。該設備做成了操作流程菜單，按照該菜單，操作人員即使不直接操作設備也能采集到數據。
JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡 JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產品，該設備在性能上有了進一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。
JEM-3300 CRYO ARM™ 300 II 場發射冷凍透射電子顯微鏡 CRYO ARM™ 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質等對電子束敏感的樣品，可進行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED等實驗。
